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X-4A顯微熔點(diǎn)儀

發(fā)布時(shí)間:2021-09-28

X-4A顯微熔點(diǎn)儀

用途

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于液晶、藥物、化工、紡織、塑料粒子、染料、香料等晶體有機(jī)化合物的測(cè)定及顯微觀察。在醫(yī)學(xué)、化工、合成纖維、生物學(xué)、礦物學(xué)、犯罪學(xué)等領(lǐng)域均有廣泛的應(yīng)用。

特點(diǎn)

◆多用性  既可作為微量樣品(毛細(xì)管法)的熔點(diǎn)測(cè)定,切片樣品的熔點(diǎn)測(cè)定,又可進(jìn)行生物工程的熱力學(xué)研究(載玻片—蓋玻片,熱臺(tái)法)

◆倍數(shù)可調(diào)  40X

◆保溫罩設(shè)計(jì)  減少了環(huán)境對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響

 

X-4A

光學(xué)放大倍數(shù)

40X

顯微鏡頭部

單目頭部

溫度顯示

最小示值0.1

熔點(diǎn)測(cè)量范圍

室溫至320

測(cè)量重復(fù)性

±1℃(小于200℃時(shí));±2℃(200℃—320℃時(shí))

 

技術(shù)參數(shù)

 

 


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