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測(cè)量顯微鏡 15JE

主要用途：

      測(cè)量顯微鏡是光學(xué)計(jì)量?jī)x器之一種，它結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，操作方便，使用范圍極廣，主要用途如下：直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度，例如測(cè)定孔距，幾面距離、刻線距離、刻線寬度、鍵槽寬度狹縫寬度、通孔外圓直徑等等：轉(zhuǎn)動(dòng)度盤(pán)測(cè)定角度，例如對(duì)刻度盤(pán)、樣板、量規(guī)、鉆孔、模板、刀具磨制及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測(cè)量；作為普通顯微鏡觀察，以比較法檢查工作表面粗糙度，鑒定冶金工業(yè)礦石標(biāo)本，檢定印刷照相制版，檢驗(yàn)紡織纖維等等

產(chǎn)品參數(shù)：

·  目鏡：10X

·  物鏡：2.5X，10X

·  工作距離：58.84mm、7.81mm

·  視場(chǎng)直徑：5.6mm、1.4 mm

·  總放大倍數(shù)：25X、100X

·  測(cè)量工作臺(tái)：直徑120mm， XY軸移動(dòng)范圍50mm×13mm，轉(zhuǎn)動(dòng)范圍0度-360度，刻度盤(pán)之分度值1度， 刻度盤(pán)游標(biāo)讀數(shù)值： 6’

·  測(cè)量臺(tái)與物鏡間之最大距離：80mm

·   數(shù)顯測(cè)微器分度值：0.01mm，

·  測(cè)量精度：儀器示值誤差±（5+L/15）um（ 儀器示值誤差包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差）
 注：測(cè)量地點(diǎn)溫度變化（20±3）℃；   L—被測(cè)件長(zhǎng)度（mm）